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產(chǎn)品分類
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噴霧顆粒分析監(jiān)測儀 德國AOM系統(tǒng)公司名稱來源于“Advance Optical Measurement Systems“，即先進的光學(xué)測量系統(tǒng)，AOM公司作為噴霧監(jiān)測技術(shù)的發(fā)明者，為噴霧或粉體顆粒的特性描述提供了創(chuàng)新的探測器和測量系統(tǒng)，并獲得了2015年德國工業(yè)獎。此系統(tǒng)采用時間漂移技術(shù)實時監(jiān)測噴霧的過程中液滴或粉體顆粒的大小，速度，動量或流量密度等特性，為噴霧或粉體顆粒的監(jiān)測提供了*的測量
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Zetaview _Particle M廠商性質(zhì)
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納米顆粒跟蹤分析儀 Zetaview所具備的單一顆粒跟蹤技術(shù)，結(jié)合經(jīng)典微電泳技術(shù)和布朗運動成為現(xiàn)代的分析手段。自動校準(zhǔn)和自動聚焦功能，讓用戶眼見為實，更加直觀人性化。通過子體積的掃描，來自于數(shù)以千計的顆粒的zeta電位和粒徑柱狀圖的結(jié)果就可以計算出來。此外，顆粒濃度也可以通過視頻計數(shù)分析得到。
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Stabino_Particle Met廠商性質(zhì)
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顆粒電位滴定及粒度分析儀 分散體中，同性帶電離子的靜電排斥作用是分散體避免凝聚保持穩(wěn)定的主要原因，故帶電粒子界面的表征是*的。當(dāng)顆粒離子化后，總電荷和電荷密度是需要知道的重要參數(shù)。電荷測量是通過建立動電信號來完成的。
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Zeta電位及納米粒度分析儀 麥奇克（Microtrac Inc.）是世界上Z著名的激光應(yīng)用技術(shù)研究和制造廠商，其先進的激光粒度分析儀已廣泛應(yīng)用于水泥，磨料，冶金，制藥，石油，石化，陶瓷，軍工等領(lǐng)域，并成為眾多行業(yè)的質(zhì)量檢測和控制的分析儀器。Microtrac Inc.公司非常注重技術(shù)創(chuàng)新，近半個世紀(jì)以來，一直*著激光粒度分析的前沿技術(shù)，可靠的產(chǎn)品和強大的應(yīng)用支持及完善的售后服務(wù)，
當(dāng)前位置：
